La microscopie aux échelles ultimes, imager les nanomatériaux

Auteur : M. Xavier Sauvage

Congrès : Rouen 2008 - 56èmes Journées Nationales de l'UdPPC ; activité du 27/10/2008 à 15h45

Lieu : INSA Saint-Etienne-du-Rouvray

Résumé de l'activité: Le développement récent des nanotechnologies et des nanomatériaux a été très largement favorisé par la mise au point de techniques de microscopies permettant d'observer la matière jusqu'à l'échelle atomique. Voir, imager et caractériser les nanosystèmes ou les nanomatériaux est devenu un enjeu extrêmement important. Cette étape est en effet indispensable pour contrôler et optimiser leurs propriétés. Cet exposé débutera par un bref historique de la microscopie et notamment de la microscopie optique. Les principes physiques élémentaires exploités dans les microscopes électroniques seront ensuite présentés et l'application des microscopes électroniques à balayage et à transmission sera illustrée à travers quelques exemples. D’autres techniques permettant d’atteindre la résolution atomique seront également brièvement présentées (microscope à effet tunnel, microscopie ionique, sonde atomique), et nous verrons comment en couplant les informations récoltées par chacune d’elle il est possible d’obtenir une description très précise de l’organisation de nanostructures de notre vie quotidienne.

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